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磁粉探傷靈敏度試片A1\\C\\D\\M1 產(chǎn)品型號：磁粉探傷靈敏度試片A1 產(chǎn)品簡介：A型靈敏度試片最先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁
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