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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 二維材料 > 碲化物晶體 > 碲化鋯 ZrTe3 （Zirconium Tritelluride）
簡要描述：晶體尺寸：8毫米電學(xué)性能：半金屬，電荷密度波（CDW，~ 63K），超導(dǎo)體（TC ~ 2K）晶體結(jié)構(gòu)：單斜磷晶胞參數(shù)：a = 0.5864nm，B = 0.3918nm，C = 1.009nm，α=γ= 90°，γ= 98晶體類型：合成晶體純度：＞99.995%表征方法：XRD、拉曼、EDX
產(chǎn)品型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2026-04-09訪 問 量：2107詳細(xì)介紹
晶體尺寸：8毫米
電學(xué)性能：半金屬，電荷密度波（CDW，~ 63K），超導(dǎo)體（TC ~ 2K）
晶體結(jié)構(gòu)：單斜磷
晶胞參數(shù)：a = 0.5864nm，B = 0.3918nm，C = 1.009nm，α=γ= 90°，γ= 98
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%
表征方法：XRD、拉曼、EDX
X-ray diffraction on a ZrTe3 single crystal aligned along the (001) plane. XRD was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker. The 5 XRD peaks correspond, from left to right, to (00l) with l = 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8
Powder X-ray diffraction (XRD) of a single crystal ZrTe3. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.
Stoichiometric analysis of a single crystal ZrTe3 by Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX).
Raman spectrum of a single crystal ZrTe3. Measurement was performed with a 785 nm Raman system at room temperature.
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